靜電在我們的生產(chǎn)和生活環(huán)境中無(wú)處不在。人體行走、摩擦衣物等都可能產(chǎn)生數(shù)千伏的靜電（人通常感知不到3-4千伏以下的靜電）。如果操作人員沒(méi)有采取正確的防靜電措施（如佩戴防靜電手環(huán)），徒手觸摸芯片引腳時(shí)，人體積累的靜電就會(huì)通過(guò)引腳放電到芯片內(nèi)部，造成損壞。此外，生產(chǎn)設(shè)備、測(cè)試設(shè)備、包裝材料等都可能成為靜電的來(lái)源。

電子元器件ESD檢測(cè)（靜電放電測(cè)試）是一種可靠性測(cè)試，它通過(guò)模擬現(xiàn)實(shí)生活中可能發(fā)生的各種靜電放電事件，將標(biāo)準(zhǔn)化的靜電脈沖施加到半導(dǎo)體器件的特定引腳上，然后檢測(cè)其電學(xué)參數(shù)和功能是否發(fā)生變化，以此來(lái)評(píng)定該器件抵抗靜電放電沖擊的能力。

目的：評(píng)估芯片本身固有的抗靜電能力，是芯片設(shè)計(jì)、工藝和制造質(zhì)量的體現(xiàn)。這部分測(cè)試通常在芯片封裝完成后進(jìn)行，是出貨前的必測(cè)項(xiàng)目。

電子元器件ESD檢測(cè)已經(jīng)形成了非常成熟和標(biāo)準(zhǔn)化的體系。以下是參考標(biāo)準(zhǔn)：